(a) Dibujo del método de fabricación de nanohilos huecos fuera del plano, denominado crecimiento inducido mediante un haz focalizado de iones de He+ (He+ FIBID, en inglés). (b) Gráfica de la resistencia eléctrica normalizada en función de la temperatura. El recuadro de la izquierda es una imagen de microscopía electrónica de transmisión de la sección transversal de un nanohilo, en la cual se puede apreciar el hueco de 5-6 nm en el centro del mismo. El recuadro de la derecha es una imagen coloreada de microscopía electrónica de barrido de un nanohilo hueco (en verde) colocado sobre una superficie y contactado mediante cuatro nanohilos (en naranja) para el estudio de sus propiedades superconductoras mediante estudios de magnetotransporte.