Premio por sus avances en el desarrollo de microscopías de fuerza que combinan la adquisición de imágenes de resolución atómica y la medida de propiedades mecánicas.
El Profesor Ricardo García usa una metodología que combina teoría y experimentación para desarrollar microscopías avanzadas con el objetivo de combinar una alta resolución espacial con análisis cuantitativos, permitiendo la manipulación de moléculas, materiales y dispositivos en escalas de longitud entre 0.5 y 100 nanómetros. Una característica crucial de esta metodología es que tanto el control a la nanoescala como el rendimiento de dispositivos sean compatibles con su operación en ambientes tecnológicamente relevantes (p.e., aire o líquidos). El Prof. García ha contribuido al desarrollo, comprensión y optimización de AFM (Atomic Force Microscopy) en modo “tapping”, que es el método más popular tanto a nivel académico como en la industria para la caracterización a escala nanométrica de materiales. El Prof. García también es el inventor del AFM bimodal. Este es un método de microscopía de fuerzas multifrecuencia que persigue el objetivo de lograr una metodología unificada para la cartografía de la topografía así como de las propiedades de los materiales a escalas inferiores al nanómetro. También ha contribuido al surgimiento y optimización de un método de nanolitografía versátil para la fabricación de nanodispositivos basados en el confinamiento espacial de reacciones químicas (oxidation Scanning Probe Lithography).
Nanolithography, Nanomechanics and Force Microscopy (ForceTool Group), Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid, ICMM-CSIC.